Test equipment

Test equipment

Industry: Semiconductors

Add a new term

Contributors in Test equipment

Become a Contributors

Test equipment

disseny per a fabricació (DFM)

Semiconductors; Test equipment

Terme utilitzat per definir activitats realitzada durant el procés de disseny (dissenyadors) per assegurar que el disseny està optimitzat per al procés de Fab que crearà el producte.

dispositiu sota prova (DUT)

Semiconductors; Test equipment

Aquest és el dispositiu de destinació s'està provant. Menys freqüentment referit com "Tall" (circuit sota prova).

embolcall I/O

Semiconductors; Test equipment

Tècnica DFT on un pin de sortida s'embolica en la seva aportació (o l'aportació d'un altre pin). Això pot permetre algunes proves de pins que no els contactats directament pel multímetre. Nota: ...

però més enllà de l'abast d'aquest glossari.

Semiconductors; Test equipment

escanejar

Semiconductors; Test equipment

Tècnica DFT on lògica tradicional funcional es torna a configurar en "cadenes" accés directe prova a nodes interns.

dominància culpa

Semiconductors; Test equipment

Dominància és la condició en la qual la desviació a la sortida causada per un defecte és insignificant comparar amb la desviació a la sortida mateix, però causada per una falla diferent.

emissió de dur a terme

Semiconductors; Test equipment

L'energia electromagnètica que es propaga al llarg d'un director d'orquestra. Aquesta energia s'anomena "realitzat interferències" si és no desitjades.